À partir de vos mesures — histogramme, écart-type, taux de non-conformité estimé
VOS MESURES
Laisser LSL ou USL vide pour une tolérance unilatérale (seul Cpk est alors calculé).
RÉSULTATS
—
Cp (potentiel)
—
Cpk (centrage inclus)
n mesures—
Moyenne x̄—
Écart-type s (n−1)—
Min / Max—
Non-conformité estimée (loi normale)—
Mesures hors tolérance dans l'échantillon—
—
Formules : Cp = (USL − LSL) / 6s · Cpk = min[(USL − x̄) ; (x̄ − LSL)] / 3s,
avec s l'écart-type échantillon (n−1). Le taux de non-conformité est estimé sous hypothèse de
loi normale — vérifiez la normalité (droite de Henry, Shapiro-Wilk) et la stabilité du procédé
(carte de contrôle) avant d'interpréter. Calculé sur un échantillon global, cet indice
s'apparente à Pp/Ppk (performance long terme) ; le Cp/Cpk court terme s'appuie sur la
dispersion intra-sous-groupes. Repères usuels : Cpk ≥ 1,33 capable · ≥ 1,67 exigences
renforcées · < 1 non capable.
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